半導(dǎo)體解決方案

JV QCVelox-E 化合物半導(dǎo)體的X射線量測方案
  • 產(chǎn)品品牌: 布魯克 Bruker
  • 產(chǎn)品產(chǎn)地: 德國
  • 應(yīng)用領(lǐng)域: 專為LED和外延層晶圓分析設(shè)計的高分辨率X射線衍射系統(tǒng)
  • 產(chǎn)品簡介: QCVelox-E是JV-QC儀器系列中最新最先進的高分辨率 X 射線衍射儀（HRXRD）。它是一款專為化合物半導(dǎo)體行業(yè)設(shè)計的高分辨率 X 射線衍射質(zhì)量控制工具，適用于表征所有常見的半導(dǎo)體襯底，包括砷化鎵（GaAs）、磷化銦（InP）、氮化鎵（GaN）、藍寶石、碳化硅（SiC）、硅（Si）等。 QCVelox-E 的測量結(jié)果通過 JV RADS 分析軟件進行分析，該軟件是市場領(lǐng)先的 HRXRD 數(shù)據(jù)模擬、分析和擬合軟件（已獲專利）。它為客戶提供全面且獨特的過程控制解決方案，能夠快速、準確地計算工藝參數(shù)，并即時向生產(chǎn)環(huán)節(jié)反饋，從而提高產(chǎn)量和盈利能力。

專為LED和外延層晶圓分析設(shè)計的高分辨率X射線衍射系統(tǒng)


  • QCVelox-E是JV-QC儀器系列中最新最先進的高分辨率 X 射線衍射儀（HRXRD）。它是一款專為化合物半導(dǎo)體行業(yè)設(shè)計的高分辨率 X 射線衍射質(zhì)量控制工具，適用于表征所有常見的半導(dǎo)體襯底，包括砷化鎵（GaAs）、磷化銦（InP）、氮化鎵（GaN）、藍寶石、碳化硅（SiC）、硅（Si）等。

  • QCVelox-E 的測量結(jié)果通過 JV RADS 分析軟件進行分析，該軟件是市場領(lǐng)先的 HRXRD 數(shù)據(jù)模擬、分析和擬合軟件（已獲專利）。它為客戶提供全面且獨特的過程控制解決方案，能夠快速、準確地計算工藝參數(shù)，并即時向生產(chǎn)環(huán)節(jié)反饋，從而提高產(chǎn)量和盈利能力。