行業(yè)動(dòng)態(tài)
發(fā)現(xiàn)最新行業(yè)動(dòng)態(tài)及技術(shù)發(fā)展新聞
發(fā)布日期：2023-05-22 11:34:50
原子力顯微鏡探針是在STM的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的。它用于通過(guò)測(cè)量樣品表面上的分子（原子）與AFM微懸臂探針之間的相互作用來(lái)觀察樣品表面的形態(tài)。
發(fā)布日期：2023-04-12 10:00:44
原子力顯微鏡探針能夠探測(cè)到幾乎所有的材料，包括金屬、半導(dǎo)體、陶瓷、聚合物、生物分子等。
發(fā)布日期：2023-04-04 10:41:35
原子力顯微鏡探針，簡(jiǎn)稱AFM（AtomicForceMicroscope），是一種利用微小力量探測(cè)物質(zhì)表面的工具。它具有高分辨率、高靈敏度和不需要顯影劑等優(yōu)點(diǎn)，因此在材料科學(xué)、表面科學(xué)、納米學(xué)、生物科學(xué)等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。
發(fā)布日期：2023-03-23 11:01:03
原子力顯微鏡探針是一種非接觸式呈量子力學(xué)效應(yīng)的微小探頭，也被稱為“納米高精度計(jì)”、“納米級(jí)掃描振鏡”等。它由納米級(jí)電子學(xué)傳感器、微機(jī)械臂等部分組成，可測(cè)定固體物質(zhì)表面的微觀形貌和性能特征。
發(fā)布日期：2023-03-13 14:59:37
原子力顯微鏡探針的工作模式都有哪些？
原子力顯微鏡探針是一種分析儀器，可用于研究固體材料（包括絕緣體）的外層結(jié)構(gòu)。它通過(guò)檢測(cè)待測(cè)展示物外層和微力傳感元件當(dāng)中微弱的原子間相互作用來(lái)研究材料的外層結(jié)構(gòu)和財(cái)產(chǎn)。根據(jù)探針與展示物外層相互作用力的變化，AFM有三種主要工作系統(tǒng)：碰達(dá)系統(tǒng)、非碰達(dá)系統(tǒng)和輕敲系統(tǒng)。
發(fā)布日期：2023-03-03 11:17:00
原子力顯微鏡探針是什么？
原子力顯微鏡探針是一種新型的探測(cè)技術(shù)，它可以提供更精確的細(xì)胞結(jié)構(gòu)和分子結(jié)構(gòu)的信息，從而更好地了解細(xì)胞的功能和結(jié)構(gòu)。
發(fā)布日期：2023-02-11 11:12:25
原子力探針廠家認(rèn)為在材料科學(xué)中，有文獻(xiàn)要研究無(wú)機(jī)材料或有機(jī)材料是結(jié)晶的還是無(wú)定形的分子或原子的存在狀態(tài)，中間體和各種相的變化，以找出結(jié)構(gòu)與性質(zhì)之間的規(guī)律。在這些研究中，AFM使研究人員能夠從分子或原子水平上直接觀察晶體或非晶的形貌、缺陷、空位能、聚集能以及各種力的相互作用。這些對(duì)于掌握結(jié)構(gòu)與性能的關(guān)系非常重要。
發(fā)布日期：2023-02-01 11:15:48
掃描探針顯微鏡探針廠家認(rèn)為一般的化學(xué)分析方法只能得到分析樣品的平均成分，而在電子顯微鏡上可以實(shí)現(xiàn)與微區(qū)形貌相對(duì)應(yīng)的微區(qū)分析，因此對(duì)于研究材料的微觀結(jié)構(gòu)和元素分布是有用的分析方法。電子探針的作用主要是分析微區(qū)的成分。它是一種基于電子光學(xué)和X射線光譜學(xué)原理開發(fā)的高 效分析儀器。